64
Hình 3.10: Phân tích XRD của mẫu graphit, GO-9 và GO-Amin (M7).
Những thay đổi về cấu trúc xảy ra trong quá trình biến tính graphit đã được
kiểm tra bằng phương pháp nhiễu xạ tia X (XRD) trong hình 3.10. Nhận thấy sự
giảm mạnh cường độ và độ rộng pic tại góc 2θ = 26.6
o
về phía thấp hơn và sự xuất
hiện pic tại 2θ = 10
o
là do lực Van der Waals tương tác yếu giữa các lớp
trong
graphit. Sự mở rộng của góc phản xạ được xem như dạng cấu trúc sóng của lớp
graphen. Điều này được giải thích là do sự hiện diện của oxy trong các nhóm chức
dẫn đến sự biến dạng liên kết sp
2
của nguyên tử cacbon lục giác. Từ kết quả nhiễu
xạ tia X kết luận được sự tách lớp graphen trong quá trình biến tính graphit, điều
này được chứng minh rõ hơn khi phân tích ảnh chụp SEM và TEM của mẫu M7
(hình 3.11).
Hình ảnh SEM của GO-Amin được tìm thấy có dạng lớp mỏng với những nếp
nhăn và nhiều khu vực gấp (hình 3.11a). Điều này được giải thích là do việc gắn
thêm các nhóm Alkyll lên GO đã làm mở rộng khoảng cách giữa các lớp của GO. Ở
độ phân giải cao ảnh chụp TEM (hình 3.11b), các lớp mỏng với các vùng gấp của
GO-Amin đã được quan sát rõ hơn.
67
a
b
c
a*
b*
c*
Hình 3.13: Ảnh chụp mẫu dầu SN500, 20W50 phân tán GO, GO-Amin (M7, M8, M9)
trong dầu SN500. Trong đó: a, b, c, sau khi siêu âm; a
*
, b
*
, c
*
- mẫu sau 10 ngày
Các mẫu GO-OA sau biến tính được phân tán trong dầu gốc khoáng SN500,
khảo sát khă năng phân tán của phụ gia thể hiện trong bảng 3.4.
Bảng 3.4: Khả năng phân tán của các mẫu GO-Amin trong dầu SN500
Mẫu
Chia sẻ với bạn bè của bạn: