CHÚ DẪN
2 Vị trí pic
I Cường độ/đếm
Hình B.2 - Đường quét nhiễu xạ của tinh thể trdymit
CHÚ DẪN
2 Vị trí pic
I Cường độ/đếm
C Cristobalit
Q Thạch anh
T Tridymit
CHÚ THÍCH: Cristobalit trong ví dụ này từ một nguồn công nghiệp và chứa thạch anh ở lượng vết.
Hình B.3 - Đường quét tổng hợp của cristobalit, thạch anh và tridymit
Phụ lục C
(Tham khảo)
Ví dụ về biểu đồ kiểm soát chất lượng đối với silic dioxit tinh thể hô hấp
Ghi lại hoặc vẽ đồ thị kết quả thu được bởi mỗi phản xạ tia X hoặc độ hấp thụ IR riêng lẻ đã sử dụng trong phân tích là hữu ích bởi vì có sự khác nhau trong đường nền hoặc vị trí pick khi phân tích mẫu có thể tạo ra kết quả không mong muốn với độ phản xạ/hấp thụ và giá trị trung bình về độ chệch. Ví dụ trong Hình C.1 trình bày sự biến đổi của các phép đo của pic 2 bậc một của XRD 26,6 °C đối với mẫu chứa khoảng 100 g -thạch anh. Đồ thị tương tự cũng có thể được tạo ra khi phân tích IR, tỷ số giữa các kết quả thu được và giá trị của chất kiểm soát chất lượng được vẽ đồ thị theo ngày phân tích. Giá trị của chất kiểm soát chất lượng có thể là giá trị lý thuyết hoặc giá trị đã biết được xác định từ lượng bụi trên cái lọc hoặc giá trị được ấn định hoặc giá trị từ mẫu dùng để thử nghiệm thành thạo. Nếu sử dụng những giá trị này, tỷ số của kết quả thu được với giá trị được ấn định cũng có thể cung cấp chỉ báo về độ chệch tiềm ẩn. Thường vẽ đồ thị theo tỷ số hơn là theo sai khác tuyệt đối từ giá trị kiểm soát chất lượng sao cho các mẫu với các giá trị khác nhau không đáng kể có thể nằm trên cùng một đồ thị. Khi sử dụng XRD, màng lọc hoặc cái lọc PVC trở lên khô và hỏng sau phép đo lặp. Xu hướng về giá trị lớn hơn là chưa dự đoán được khi đo RCS bằng tia X trên những kiểu cái lọc này.
Chia sẻ với bạn bè của bạn: |